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岱美儀器技術服務(上海)有限公司

PRODUCT DISPLAY

當前位置:岱美儀器技術服務(上海)有限公司>>晶圓缺陷檢測>>LAZIN>> LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

GlassWafe缺陷檢查裝置

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號:LODAS™ – BI12

品       牌:LAZIN

廠商性質:代理商

所  在  地:上海市

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更新時間:2024-11-09 15:00:06瀏覽次數:1745次

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LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

列真株式會社自創業以來,秉承“挑戰"、“創造"、“誠實"的經營理念,為顧客提供可靠、可信的產品和服務。運用激光掃描技術,專門制造、銷售半導體材料表面及內部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


特征:

  • Glass Wafer的出貨檢查、過程評價

  • 可同時檢查表面,背面和內部的缺陷

  • 用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷

  • 檢查對象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer

  • 檢查項目:表面和背面的顆粒、內部缺陷

列真公司檢查裝置的維護、修理

  • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

  • 24小時電話對應,全年無休的安心支持。

  • 認真對待客戶新的要求。

  • 召開技術研討會和充實各種手冊,讓顧客能夠自行維護和更換零件。

  • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務。


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